材料现代分析方法重点笔记

作者:admin 来源:未知 点击数: 发布时间:2019年09月16日

  材料现代阐发方式重点笔记_医学_高档教育_教育专区。从10多份篇试题及材料中总结出来的重点材料,是《材料现代阐发方式》(材料科学研究方式A)复习的最佳法宝!

  《材料现代阐发方式》 (材料科学研究方式)期末复习 《材料现代阐发方式》重点笔记(简答题) “ 1.“一束 X 射线映照一个原子列(一维晶体 ) 射线映照一个原子列(一维晶体) ,只要镜面反射标的目的上才有可能 发生衍射线” 发生衍射线” ,此种说法能否准确? 答:不准确,由于一束 X 射线映照一个原子列上,原子列上每个原子受迫城市 构成新的 X 射线源向四周发射与入射光波长分歧的新的 X 射线,只需合适光的 干与三个前提(光程差是波长的整数倍) ,分歧点光源间发出的 X 射线都可发生 干与和衍射。镜面反射,其光程差为零,是特殊环境。 3·尝试当选择 X 射线管以及滤波片的准绳是什么 ?已知一个以 Fe 为次要成分 射线管以及滤波片的准绳是什么? 的样品,试选择合适的 X 射线管和合适的滤波片 。 的样品, 射线管和合适的滤波片。 答:尝试当选择 X 射线管的准绳是为避免或削减发生荧光辐射,该当避免利用 比样品中主元素的原子序数大 2~6 特别是 2 的材料作靶材的 X 射线管。 选择滤波片的准绳是 X 射线阐发中,在 X 射线管与样品之间一个滤波片,以滤 掉 Kβ线。滤波片的材料依靶的材料而定。一般采用比靶材的原子序数小 1 或 2 的材料。 以阐发以铁为主的样品, 该当选用 Co 或 Fe 靶的 X 射线管, 同时选用 Fe 和 Mn 为滤波片。 4·试述获取衍射花腔的三种根基方式及其用处 答:获取衍射花腔的三种根基方式是劳埃法、扭转晶体法和粉末法。 劳埃法次要用于阐发晶体的对称性和进行晶体定向。 扭转晶体法次要用于研究晶 体布局。粉末法次要用于物相阐发。 5·衍射线在空间的方位取决于什么?而衍射线的强度又取决于什么? 答:衍射线束的标的目的由晶胞的外形、大小决定 衍射线束的强度由晶胞华夏子的位置和品种决定, 衍射线束的外形大小与晶体的 外形大小相关。 (衍射线在空间的方位次要取决于晶体的面网间距,或者晶胞的大小。 衍射线的强度次要取决于晶体华夏子的品种和它们在晶胞中的相对位置。 ) 《材料现代阐发方式》期末复习 第 1 页 共 9 页 《材料现代阐发方式》 (材料科学研究方式)期末复习 6.磁透镜的像差是如何发生的 ? 若何来消弭和削减像差 ? .磁透镜的像差是如何发生的? 若何来消弭和削减像差? 答:像差分为球差,像散,色差. 球差是磁透镜核心区和边缘区对电子的折射能力分歧惹起的. 增大透镜的激磁 电流可减小球差. 像散是因为电磁透镜的周向磁场不非扭转对称惹起的.能够通过引入一强度和 方位都能够调理的矫正磁场来进行弥补. 色差是电子波的波长或能量发生必然幅度的改变而形成的. 不变加快电压和透 镜电流可减小色差. 7.别从道理、衍射特点及使用方面比力 X射线衍射和透射电镜中的电子衍 .别从道理、衍射特点及使用方面比力X 射在材料布局阐发中的异同点。 答:道理: X射线映照晶体,电子受迫振动发生相关散射;统一原子内各电子散 射波彼此干与构成原子散射波; 晶体内原子呈周期陈列,因此各原子散射波间也 具有固定的位相关系而发生干与感化, 在某些标的目的上发生相长干与, 即构成衍射。 特点: 1)电子波的波长比X射线)电子衍射发生黑点大致分布在一个二维倒易截面内 3)电子衍射中略偏离布拉格前提的电子束也能发生衍射 4)电子衍射束的强度较大,拍摄衍射花腔时间短。 使用: 硬X射线合用于金属部件的无损探伤及金属物相阐发,软X射线可用于非金 属的阐发。透射电镜次要用于描摹阐发和电子衍射阐发(确定微区的晶体布局或 晶体学性质) 8.什么是波谱仪和能谱仪?申明其工作的三种根基体例,并比力波谱仪和能谱 什么是波谱仪和能谱仪?申明其工作的三种根基体例,并比力波谱仪和能谱 仪的优错误谬误。 答:波谱仪:用来检测X射线的特征波长的仪器 能谱仪:用来检测X射线的特征能量的仪器 长处: 1)能谱仪探测X射线的效率高。 在统一时间对阐发点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数,在几分钟内 可获得定性阐发成果,而波谱仪只能逐一丈量每种元素特征波长。 2)布局简单,不变性和重现性都很好 3)不必聚焦,对样品概况无特殊要求,适于粗拙概况阐发。 错误谬误: 1)分辩率低. 能谱仪只能阐发原子序数大于11的元素;而波谱仪可测定原子序数从4到92间的 所有元素。 3)能谱仪的Si(Li)探头必需连结在低温态,因而必需不时用液氮冷却。 9.电子束入射固体样品概况会激发哪些信号 ? 它们有哪些特点和用处 ? 子束入射固体样品概况会激发哪些信号? 它们有哪些特点和用处? 答:次要有六种: 1)背散射电子:能量高;来自样品概况几百nm深度范畴;其产额随原子序数增 大而增加.用作描摹阐发、成分阐发以及布局阐发。 2)二次电子:能量较低;来自表层5—10nm深度范畴;对样品概况化形态十分敏 《材料现代阐发方式》期末复习 第 2 页 共 9 页 《材料现代阐发方式》 (材料科学研究方式)期末复习 感。不克不及进行成分阐发.次要用于阐发样品概况描摹。 3)接收电子:其衬度刚好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度 互补。接收电子能发生原子序数衬度,即可用来进行定性的微区成分阐发. 4)透射电子:透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体布局决定.可进行微区成 分阐发。 5)特征X射线: 用特征值进行成分阐发,来自样品较深的区域 6)俄歇电子:各元素的俄歇电子能量值很低;来自样品概况1—2nm范畴。它适合 做概况阐发。 10.论述X射线物相阐发的根基道理,试比力衍射仪法与德拜法的优错误谬误? 10.论述 论述X 答: :X 射线物相阐发的根基道理是每一种结晶物质都有本人奇特的晶体布局, 即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的陈列等。因而,从布 拉格公式和强度公式晓得,当X 射线通过晶体时,每一种结晶物质都有本人独 特的衍射花腔, 衍射花腔的特征能够用各个反射晶面的晶面间距值d 和反射线的 强度I来表征。此中晶面间距值d 与晶胞的外形和大小相关,相对强度I 则与质 点的品种及其在晶胞中的位置相关。通过与衍射阐发尺度数据比力判定物相。 (粉末拍照法的长处是所需试样少少(1mg),设备简单,价钱廉价;错误谬误是摄照 时间长,精确度不高。 衍射仪速度快,衍射线强度丈量切确,消息量大,精度高,阐发简洁,试样制 备简单,但所需试样量大(>0.5g) ,用平板状试样。 ) 与拍照法比拟,衍射仪法在一些方面具有较着分歧的特点,也正好是它的 优错误谬误。 (1)简洁快速,此外,衍射仪还能够按照需要有选择地扫描某个小范畴,可大 大缩短扫描时间。 (2)分辩能力强 (3)间接获得强度数据 (4)低角度区的2θ丈量范畴大 (5)样品用量大 (6)设备较复杂,成本高。 明显,与拍照法比拟,衍射仪有较多的长处,凸起的是简洁快速和切确度高, 并且跟着电子计较机共同衍射仪主动处置成果的手艺日益普及, 这方面的长处将 更为凸起。所以衍射仪手艺目前已为国表里所普遍利用。可是它并不克不及完全代替 拍照法。出格是它所需样品的数量很少,这是一般的衍射仪法远不克不及及的。 11.扫描电镜的分辩率受哪些要素影响 ? 用分歧的信号成像时,其分辩率有何 11.扫描电镜的分辩率受哪些要素影响 .扫描电镜的分辩率受哪些要素影响? 分歧? 所谓扫描电镜的分辩率是指用何种信号成像时的分辩率 ? 分歧? 所谓扫描电镜的分辩率是指用何种信号成像时的分辩率? 答:影响要素:电子束束斑大小,检测信号类型,检测部位原子序数. SE和HE信号的分辩率最高, BE其次,X射线的最低. 扫描电镜的分辩率是指用 SE 和 HE 信号成像时的分辩率. 12.什么叫干与面?当波长为 λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个( hkl) 12.什么叫干与面?当波长为 什么叫干与面?当波长为λ 射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl hkl) 晶面衍射线的波程差是几多?相邻两个 HKL干与面的波程差又是几多? 晶面衍射线的波程差是几多?相邻两个HKL HKL干与面的波程差又是几多? 答:晶面间距为d’/n、干与指数为nh、 nk、 nl 的设想晶面称为干与面。当波 《材料现代阐发方式》期末复习 第 3 页 共 9 页 《材料现代阐发方式》 (材料科学研究方式)期末复习 长为λ的X 射线映照到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ, 相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ。 什么是光电效应?光电效应在材料阐发中有哪些用处? 13.什么是光电效应?光电效应在材料阐发中有哪些用处? 答:光电效应是指:当用X射线轰击物质时 ,若X射线的能量大于物质原子对其 内层电子的束缚力时,入射X射线光子的能量就会被接收,从而导致其内层电子 被激发, 发生光电子。材料阐发中使用光电效应道理研制了光电子能谱仪和荧光 光谱仪,对材料物质的元素构成等进行阐发。 14.二次电子像和背散射电子像在显示概况描摹衬度时有何不异与分歧之处 ? 14.二次电子像和背散射电子像在显示概况描摹衬度时有何不异与分歧之处 答:二次电子像: 1)凸出的尖棱,小粒子以及比力陡的斜面处SE产额较多,在荧光屏上这部 分的亮度较大。 2)平面上的SE产额较小,亮度较低。 3)在深凹槽底部虽然能发生较多二次电子,使其不易被节制到,因而响应 衬度也较暗。 背散射电子像: 1)用BE进行描摹阐发时,其分辩率远比SE像低。 2)BE能量高,以直线轨迹逸出样品概况,对于背向检测器的样品概况,因 检测器无法收集到BE而变成一片暗影,因而,其图象衬度很强,衬度太大会失 去细节的条理,晦气于阐发。因而,BE描摹阐发结果远不及SE,故一般不消 BE 信号。 15.原子散射因数的物理意义是什么?某元素的原子散射因数与其原子序数有 15.原子散射因数的物理意义是什么?某元素的原子散射因数与其原子序数有 何干系? 答:原子散射因数f 是以一个电子散射波的振幅为怀抱单元的一个原子散射波 的振幅。 也称原子散射波振幅。它暗示一个原子在某一标的目的上散射波的振幅是一 个电子在不异前提下散射波振幅的f 倍。 它反映了原子将X 射线向某一个标的目的散 射时的散射效率。 原子散射因数与其原子序数有何干系,Z 越大,f 越大。因而,重原子对X 射 线散射的能力比轻原子要强。 16.用单色X射线映照圆柱多晶体试样 ,其衍射线在空间将构成什么图案?为摄 16.用单色X 射线映照圆柱多晶体试样, 取德拜图相,该当采用什么样的底片去记实? 答:用单色X 射线映照圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将构成一组锥心角不 等的圆锥构成的图案。 为摄取德拜图相,该当采用带状的拍照底片去记实。 、单晶及非晶衍射花腔的特征及构成道理。 17.简要申明多晶(纳米晶体 ) .简要申明多晶(纳米晶体) 答:单晶花腔是一个零层二维倒易截面,其倒易点法则陈列,具有较着对称性, 且处于二维收集的格点上。 因而表达花腔对称性的根基单位为平行四边形。单晶 电子衍射花腔就是(uvw)*0 零层倒易截面的放大像。 多晶面的衍射花腔为: 各衍射圆锥与垂直入射束标的目的的荧光屏或拍照底片的订交 线, 为一系列齐心圆环。 每一族衍射晶面临应的倒易点分布调集而成一半径为1/d 《材料现代阐发方式》期末复习 第 4 页 共 9 页 《材料现代阐发方式》 (材料科学研究方式)期末复习 的倒易球面,与Ewald 球的相惯线为园环,因而,样品各晶粒{hkl}晶面族晶面 2θ为半锥角的衍射圆锥, 的衍射线轨迹构成以入射电子束为轴、 分歧晶面族衍射 圆锥2θ分歧,但各衍射圆锥共顶、共轴。 非晶的衍射花腔为一个圆斑。 18.什么是衍射衬度 ? 绘图申明衍衬成像道理,并申明什么是明场像、暗场 18.什么是衍射衬度 .什么是衍射衬度? 像和核心暗场像。 答:衍射衬度:由样品遍地衍射束强度的差别构成的衬度。 明场成像: 只让核心透射束穿过物镜光栏构成的衍衬像称为明场镜。 暗场成像: 只让某一衍射束通过物镜光栏构成的衍衬像称为暗场像。 19.当X射线在原子例上发射时,相邻原子散射线在某个标的目的上的波程差若不 19.当 .当X 为波长的整数倍,则此标的目的上必然不具有 反射,为什么? 为波长的整数倍,则此标的目的上必然不具有反 答:由于X 射线在原子上发射的强度很是弱,需通过波程差为波长的整数倍 而发生干与加强后才可能有反射线具有,而干与加强的前提之一必需具有波程 差, 且波程差需等于其波长的整数倍, 不为波长的整数倍标的目的上必然不具有反射。 20.某一粉末相上背射区线条与透射区线条比力起来,其 θ较高抑或较低?相 20.某一粉末相上背射区线条与透射区线条比力起来,其 .某一粉末相上背射区线条与透射区线条比力起来,其θ 应的d较大仍是较小? 应的d 答:背射区线条与透射区线条比力θ较高,d 较小。 发生衍射线dsinθ=λ,对于背射区属于2θ高角度区,根 据d=λ/2sinθ,θ越大d 越小。 21.试从入射光束、样品外形、成相道理、衍射线记实、衍射花腔、样品接收 与衍射强度(公式 ) 与衍射强度(公式) 、衍射配备及使用等方面比力衍射仪法与德拜的异同点。 答:不异点:入射X射线的光束:都为单色的特征X射线,都有光栏调理光束。 分歧: 衍射仪法:采用必然发散度的入射线θ变化, 德拜法:通过进光管限制入射线的发散度。 试样外形:衍射仪法为平板状,德拜法为细圆柱状。 试样接收:衍射仪法接收时间短,德拜法接收时间长,约为10~20h。 记实体例:衍射仪法采用计数率仪作图,与计较机毗连可实现主动记实和衅 谱处置, 德拜法采用环带形底片成相, 并且它们的强度(I) 对(2θ)的分布(I-2 θ曲线)也分歧,衍射仪图谱中强度或间接丈量精度高,且可获得绝对强度; 衍射配备:衍射仪布局复杂成本高,德拜法布局简单造价低; 使用:衍射仪与计较机毗连,通过很多软件可获得各类消息而获得普遍使用。 22.试述布拉格公式 2dHKLsinθ=λ 中各参数的寄义,以及该公式有哪些使用 2dHKLsinθ 答:dHKL 暗示HKL 晶面的面网间距, θ角暗示擦过角或布拉格角,即入射X射线或衍射线与 面网间的夹角,λ暗示入射X射线的波长。 该公式有二个方面用处: (1)已知晶体的d 值,通过丈量θ,求特征X 射线的λ,并通过λ判断发生特 征X 射线的元素。此次要使用于X 射线荧光光谱仪和电子探针中。 (2)已知入射X 射线的波长,通过丈量θ,求晶面间距。并通过晶面间距, 《材料现代阐发方式》期末复习 第 5 页 共 9 页 《材料现代阐发方式》 (材料科学研究方式)期末复习 测定晶体布局或进行物相阐发。 23.物相定量阐发的道理是什么?试述用 K值法进行物相定量阐发的过程。 .物相定量阐发的道理是什么?试述用K 答:X射线定量阐发的使命是:在定性阐发的根本上,测定多相夹杂物中各相的 含量。 定量阐发的根基道理是物质的衍射强度与参与衍射的该物质的体积成反比 K 值法是内标法延长。从内标法我们晓得,通过插手内标可消弭基体效应的影 响。K 值法同样要在样品中插手尺度物质作为内标,人们经常也称之为清洗剂。 K 值法不须作尺度曲线得出而能求得 K 值。 24.阐发电子衍射与 x射线.阐发电子衍射与 射线衍射有何异同? .阐发电子衍射与x 答:电子衍射与X 射线衍射比拟具有下列特点: (1)电子波的波长比X射线短得多,因而,在同样满足布拉格前提时,它 的衍射角度很小,10-2 rad,而X 射线)电子衍射发生黑点大致分布在一个二维倒易截面内,晶体发生的衍射花 样能比力直观地反映晶体内各晶面的位向。由于电子波长短,用Ewald 图解时, 反射球半径很大,在衍射角很小时的范畴内,反射球的球面可近似为平面。 (3)电子衍射用薄晶体样品,其倒易点沿样品厚度标的目的扩展为倒易杆,添加 了倒易点和Ewald 球订交截面机遇, 成果使略偏离布拉格前提的电子束也能发生 衍射。 (4)电子衍射束的强度较大,拍摄衍射花腔时间短。由于原子对电子的散 射能力弘远于对 X 射线.发生电子衍射的需要前提与充实前提是什么? 25.发生电子衍射的需要前提与充实前提是什么? 答:发生电子衍射的充实前提是Fhkl≠0, 发生电子衍射需要前提是满足或根基满足布拉格方程。 26.决定X 射线.决定 决定X 试申明式中各参数的物理意义 ? 试申明式中各参数的物理意义? 答:X 射线衍射强度的公式,试中各参数的寄义是: I0 为入射X 射线的强度; λ 为入射X 射线的波长 R 为试样到观测点之间的距离; V 为被映照晶体的体积 Vc 为单元晶胞体积 P 为多重性因子,暗示等晶面个数对衍射强度的影响因子; F 为布局因子,反映晶体布局华夏子位置、品种和个数对晶面的影响因子; A(θ) 为接收因子,圆筒状试样的接收因子与布拉格角、试样的线接收系数μ和 试样圆柱体的半径相关; 《材料现代阐发方式》期末复习 第 6 页 共 9 页 《材料现代阐发方式》 (材料科学研究方式)期末复习 平板状试样接收因子与μ相关,而与θ角无关 φ(θ) 为角因子,反映样品中参与衍射的晶粒大小,晶粒数目和衍射线位置 对衍射强度的影响; e-2M 为温度因= 27.影响红外光谱接收峰位置的次要要素有哪些? 27.影响红外光谱接收峰位置的次要要素有哪些? 答:成键轨道类型,诱导效应,共轭效应,键应力,氢键,耦合效应,分歧 物态等。 28.什么是衍射衬度 ?它与质厚衬度有什么区别 ? 28.什么是衍射衬度 它与质厚衬度有什么区别? .什么是衍射衬度? 答:由样品遍地衍射束强度的差别构成的衬度称为衍射衬度。或是由样品遍地 满足布拉格前提程度的差别形成的。 对于晶体薄膜样品而言,厚度大致平均,原子序数也无不同,因而,不成能操纵 质厚衬度来获得图象反差,如许,晶体薄膜样品成像是操纵衍射衬度成像,简称 “衍射衬度” 非晶(复型)样品电子显微图像衬度是因为样品分歧微区间具有原子序数或厚度 的差别而构成的,即质厚衬度,质厚衬度是成立在非晶样品华夏子对电子的散射 和透射电子显微镜小孔径成像的根本上的。 29.试总结衍射花腔的背底来历,并提出一些防止和削减背底的办法。 29.试总结衍射花腔的背底来历,并提出一些防止和削减背底的办法。 答: (1)靶材的选用影响背底; (2)滤波片的感化影响到背底; (3)样品的制备对背底的影响。 办法: (1)选靶,靶材发生的特征X 射线(常用Kα射线)尽可能小地激发样 品的荧光辐射,以降低衍射花腔背底,使图像清晰。 (2)滤波,K 系特征辐射包罗Kα和Kβ射线,因两者波长分歧,将使样品 K 的发生两套方位分歧的衍射花腔;选择滤波片材料,使λkβ靶<λk 滤<λkαafc, α射线因激发滤波片的荧光辐射而被接收。 (3)样品,样品晶粒为5μm 摆布,长时间研究,制样时尽量轻压,可削减 背底。 30.何谓系统消光?系统消光现象的具有申明什么问题? 30.何谓系统消光?系统消光现象的具有申明什么问题? 晶胞内原子位置分歧或原子品种分歧, 将使某些标的目的上的衍射强度减小以至消 失, 这种现象称为系统消光。 系统消光现象申明布拉格方程只是衍射的需要前提, 而不是充实前提。 《材料现代阐发方式》期末复习 第 7 页 共 9 页 《材料现代阐发方式》 (材料科学研究方式)期末复习 入射的 X 射线能够被此中晶体的每一个格点散射。各个散射波进行相关叠加, 发生衍射。在与入射线θ角的标的目的上就会呈现衍射线。 X 射线衍射的素质是晶体中大量原子对 X 射线散射的散射线之间彼此干与的现 象。 用波长为λ的 x 射线映照晶体时, 晶体中只要面间距 dλ/2 的晶面才能发生衍射。 波长选定后,分歧晶系或统一晶系而晶胞大小分歧的晶体,其衍射线束的标的目的不 不异。因而,研究衍射线束的标的目的,能够确定晶胞的外形大小。 布喇格方程是 X 射线在晶体发生衍射的需要前提而非充实前提。有些环境下晶 体虽然满足布拉格方程,但不必然呈现衍射线,即所谓系统消光。 物质对 X 射线的散射能够认为只是电子的散射。 相关散射波虽然只占入射能量的极小部门,但因为它的相关特征而成为 X 射线 衍射阐发的根本。 布局因子与晶胞的外形和大小无关,只与原子在晶胞中的位置相关。 处于激发形态的原子通过电子轨道间的电子跃迁,辐射出新的X射线特征谱线, 叫做二次特征辐射,或荧光辐射。 (元素阐发) 原子中内层电子被激发后, 外层电子将向内层跃迁,释放出的能量还可惹起另一 外层电子电离,从而发射出具有必然能量的电子,称为俄歇电子,此过程称为俄 歇效应。 俄歇电子能谱的特点 ·俄歇电子能谱能够阐发除氢氦以外的所有元素 ,是无效的定性阐发东西; ·俄歇电子能谱具有很是活络的概况性,是最常用的概况阐发手段,检测深度在 0.5-2nm;检测极限约为 10-3 原子单层。 ·采用电子束作为激发源,具有很高的空间分辩率,最小可达到 10nm。 ·可进行微区阐发和深度阐发,具有三维阐发的特点。 ·要求是导体或半导体材料 轨道连系能上的细小差别能够导致俄歇电子能量的变化, 这种变化就称作元素的 俄歇化学位移,它取决于元素在样品中所处的化学情况。 俄歇谱一般具有两种形式,积分谱(间接谱)和微分谱; 积分谱能够包管本来的消息量,但布景太高,难以间接处置;能够间接获得。 微分谱具有很高的信背比,容易识别,但会得到部门有用消息以及注释复杂。 可 通过微分电路或计较机数字微分获得。 分辩本事是指成像物体上能分辩出来的两个物点间的最小距离。 电磁透镜的分辩本事由衍射效应和像差来决定。因球差没有无效的矫正方式, 故 球差是限制电磁透镜分辩本事的次要要素。 《材料现代阐发方式》期末复习 第 8 页 共 9 页 《材料现代阐发方式》 (材料科学研究方式)期末复习 透镜电镜是以波长极短的电子束作为照明源, 用电磁透镜聚焦成像的一种高分辩 本事、高放大倍数的电子光学仪器。 EPMA EPMA)简称为电子探针,是透射电子显微镜、 电子探针 X 射线显微阐发仪(EPMA 扫描电子显微镜和X 射线荧光光谱仪相连系的产品。 热重阐发是在速度可调的加热 (或冷却) 情况中, 丈量被测物质的分量与时间 (或 TG TG曲线。 温度)的函数关系的阐发方式。所记实的函数关系曲线称为热重曲线或TG 热重阐发有两种控温体例:升温法和恒温法 从 DTA 曲线上能够看到物质在分歧的温度下所发生的吸热和放热反映, 可是并 不克不及获得热量的定量数据。后人对DTA 的仪器进行改良,设想了两个独立的量 热器皿, 试样和参比物别离有各自独立的加热元件和测温元件,并由两个系统进 行监控。 此中一个用于节制升温速度, 另一个用于测定试样和参比物之间的温差。 P T t 丈量输出弥补给试样和参比物的功率之差△P′随温度T 或时间t 的变化,就得 DSC DSC曲线。 到DSC 紫外、 可见接收光谱常用于研究不饱和无机物,出格是具有共轭系统的无机化合 物,而红外光谱法次要研究在振动中陪伴有偶极矩变化的化合物。 红外接收光谱是分子振动能级跃迁发生的。 化学键越强,键能越大,键的力常数越大,振动频次越高;相对原子质量越小, 振动频次也越高。 简正振动的特点是分子的质心在振动中连结不变, 所有原子都在统一霎时通过各 自的均衡位置。每个简正振动代表一种振动体例,有它自已的特征振动频次, 对 应于必然的振动能级。 接收谱带的强度 振动时偶极矩变化愈大,接收强度愈大。 色谱法按两相形态分类:气相色谱(气固谱和气液色谱)和液相色谱(液固色谱 和液液色谱) 《材料现代阐发方式》期末复习 第 9 页 共 9 页

  材料现代阐发方式重点

  材料现代阐发方式_北京工...

  现代构和学重点复习材料...

  材料现代阐发方式复习重...

  全面重点自考中国现代文...

  中国现代文学作品选笔记...

  《中国现代文学史》笔记...

  (古代汉语、现代汉语笔记...

  《电子商务与现代物流》...

  中国现代文学史笔记完整...

  《材料现代阐发方式》总...

  材料物理机能重点

  2016《材料现代阐发测试...

  材料现代阐发方式试题(1...

  材料现代阐发方式试题及...

(编辑:admin)
http://pfnlquebec.com/mc/390/